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智能高頻絕緣材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀

簡(jiǎn)要描述:智能高頻絕緣材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀由測(cè)試裝置(夾具)、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tan5自動(dòng)測(cè)量控件(裝入STD-C的軟件模塊)、及電感器組成。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tan)和介電常數(shù)(c)自動(dòng)測(cè)量的最佳解決方案。

  • 產(chǎn)品型號(hào):TD-STD-C型
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2026-01-21
  • 訪  問(wèn)  量:101

詳細(xì)介紹

品牌天棋星子應(yīng)用領(lǐng)域化工,農(nóng)林牧漁,地礦,建材/家具,道路/軌道/船舶

TD-STD-C型智能高頻絕緣材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀產(chǎn)品介紹


儀器構(gòu)成

TD-STD-C高頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試系統(tǒng)由測(cè)試裝置(夾具)、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tan5自動(dòng)測(cè)量控件(裝入STD-C的軟件模塊)、及電感器組成。

參照標(biāo)準(zhǔn)

智能高頻絕緣材料介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀依據(jù)國(guó)jiGB/T5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法第4部分:介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值測(cè)試方法、GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法.GB/T1409-2006、GB/T1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及國(guó)際電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。

產(chǎn)品概述

系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tan)和介電常數(shù)(c)自動(dòng)測(cè)量的Z佳解決方案。本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來(lái)夾被測(cè)樣品,配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過(guò)公式計(jì)算得到。使用TD-STD-C數(shù)字Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)(c)和介質(zhì)損耗(tan)。

電感組

電感No電感量準(zhǔn)確度%Q值≥分布電容約值諧振頻率范圍MHz適合介電常數(shù)測(cè)試頻率
10.1μH±0.05μH200

5pF 

31~10350MHz
20.5μH±0.05μH2005pF14.8~46.615MHz
32.5μH±5%200
5pF6.8~21.410MHz
410μH±5%2006pF3.410.555MHz
550μH±5%2006pF1.5~4.551.5MHz
6100μH±5%2006pF1.06~3.20IMHz
71mH ±5%1508pF0.34~1.020.5MHz
8

5mH

±5%1308pF0.148~0.390.25MHz
910mH±5%908pF0.107~0.320.1MHz
1014nH ±5%v1005pF100MHz100MHz














主要技術(shù)參數(shù)

功能名稱(chēng):TD-STD-C

信號(hào)源范圍 DDS 數(shù)字合成信號(hào):100KHZ-160MHZ

信號(hào)源頻率覆蓋比:16000:1

信號(hào)源頻率精度6位有效數(shù):3*10-5±1個(gè)字

采樣精度:12BIT;高精度的AD采樣,保證了Q值的穩(wěn)定性,以及低介質(zhì)損耗材料測(cè)試時(shí)候的穩(wěn)定性

Q測(cè)量范圍:1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程

Q分辨率:4位有效數(shù),分辨率0.1

Q測(cè)量工作誤差:<5%

電感測(cè)量范圍(4 位有效數(shù),分辨率0.1lnH):InH-140ml分辨率0.InH

電感測(cè)量誤差:<3%

調(diào)諧電容:主電容17-240pF(一體鍍銀成型,精度高)

電容自動(dòng)搜索:是(帶步進(jìn)馬達(dá))

電容直接測(cè)量范圍:lpF~25nF

調(diào)諧電容誤差:士1pF或<1%

分辨率:0.1pF

介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置

樣品尺寸:固體:材料測(cè)量直徑中38mm;厚度可調(diào)<15mm;(極片可以定制)




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